espectrofotômetro uv/vis de feixe duplo
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Espectrofotômetro UV/VIS de feixe duplo UV-2601
CARACTERÍSTICAS: ◆ Ampla faixa de comprimento de onda, satisfazendo requisitos de vários campos. ◆ Cinco opções de seleção de largura de banda espectral, 5nm, 4nm, 2nm, 1nm e 0,5nm, feitas de acordo com a necessidade do cliente e atendendo aos requisitos da farmacopéia. ◆ Design totalmente automatizado, facilitando a medição ◆ Óptica otimizada e design de circuitos integrados em larga escala, fonte de luz e receptor de fabricantes mundialmente famosos, tudo isso resulta em alto desempenho e confiabilidade. ◆ Métodos de medição ricos, varredura de comprimento de onda, varredura de tempo, determinação de múltiplos comprimentos de onda, determinação de derivadas de múltiplas ordens, método de comprimento de onda duplo e método de comprimento de onda triplo, etc., atendem a diferentes requisitos de medição. ◆ Suporte automático de 8 células de 10 mm, alterável para suporte automático de células de 5 mm a 50 mm e 4 posições para mais opções. ◆ A saída de dados pode ser obtida através de uma porta de impressora. ◆ Parâmetros e dados podem ser salvos em caso de falha de energia para conveniência do usuário. ◆ A medição controlada por PC pode ser obtida através da interface RS-232 (porta USB) para requisitos mais precisos e flexíveis.
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Espectrofotômetro UV/VIS de feixe duplo UV-1801
CARACTERÍSTICAS: ◆ Tipo de varredura, espectrofotômetro de feixe único com ampla faixa de comprimento de onda, satisfazendo requisitos de vários campos. ◆ Três opções de seleção de largura de banda espectral: 5nm, 2nm e 1nm, feitas de acordo com a necessidade do cliente e atendendo aos requisitos da farmacopéia. ◆ O suporte manual padrão de 4 células acomoda células de 5 a 50 mm e pode ser alterado para um suporte de comprimento longo de 100 mm. ◆ Design óptico e eletrônico otimizado, fonte de luz e detector do fabricante mundialmente famoso garantem alto desempenho e confiabilidade. ◆ Métodos de medição ricos: varredura de comprimento de onda, varredura de tempo, determinação de múltiplos comprimentos de onda, determinação de derivadas de múltiplas ordens, método de comprimento de onda duplo e método de comprimento de onda triplo, etc., atendem a diferentes requisitos de medição. ◆ A saída de dados pode ser obtida através de uma porta de impressora. ◆ Parâmetros e dados podem ser salvos em caso de falha de energia para conveniência do usuário. ◆ A medição controlada por PC pode ser obtida através da interface RS-232 (porta USB) para requisitos mais precisos e flexíveis.
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